一、可程式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品名稱三箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)（風(fēng)冷式）

二、產(chǎn)品型號(hào)3AP-CJ-80A

三、設(shè)備用途：廣泛用于電子電器零組件塑膠等行業(yè)、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑料等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理性變化進(jìn)行試驗(yàn)，用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在最短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理變化。

四、是光電、金屬、光伏、塑料、硅膠、電器、橡膠、電子等工作材料或者工業(yè)行業(yè)的試驗(yàn)設(shè)備。

五、有以下優(yōu)勢：  

1.采用微電腦大型液晶LCD觸摸屏中英文可隨意切換顯示的控制器作為主要系統(tǒng)。  

2.此試驗(yàn)設(shè)備的箱體分為三部分，分別為低溫儲(chǔ)蓄冷量區(qū)(冷沖擊時(shí)用)，高溫儲(chǔ)蓄熱量區(qū)(熱沖擊時(shí)用)，產(chǎn)品測試擺放區(qū)(冷熱沖擊試驗(yàn)時(shí)用)，測試產(chǎn)品*靜止的擺放在產(chǎn)品測試擺放區(qū)的隔層架上，通過控制器指令把冷溫或者熱溫通過氣體找開閥門快速灌進(jìn)來從而達(dá)到?jīng)_擊的目的。  

3.此試驗(yàn)設(shè)備還可設(shè)定高溫、低溫及高低溫沖擊三種不同試驗(yàn)條件的功能做測試，執(zhí)行高低溫沖擊或才冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇兩箱式或三箱式的結(jié)構(gòu)，除了可以做快速?zèng)_擊試驗(yàn)效果外還并具有高低溫試驗(yàn)箱的普通功能。  

4.高程序記憶容量，可設(shè)定儲(chǔ)存100組程序。  

5.具有RS-232C通信接口裝置，還可以加配USB直接用U盤導(dǎo)出測試數(shù)據(jù)，使用便捷。  

6.冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備故障時(shí)，配有自動(dòng)機(jī)回路及警示訊號(hào)。發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時(shí)，具有緊急停機(jī)裝置。  

7.具備全自動(dòng)，高精度系統(tǒng)回路，任一機(jī)件動(dòng)作，*由P.L.C.鎖定處理。

六、容積、尺寸和重量

6.1.內(nèi)容積80L

6.2.內(nèi)箱尺寸400*500*400mm   　 (W* H *D)

6.3.外型尺寸(約)1550*1850*1600mm   (W* H *D)

6.4.重  量約900㎏

七、可程式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)性能指標(biāo)

7.1.測試環(huán)境條件機(jī)器周圍環(huán)境溫度維持在+25~+30℃之間，相對(duì)濕度：≤85%；氣壓：86kPa～106kPa正常大氣壓力。

7.2.滿足標(biāo)準(zhǔn) .GB/T2423.1-2008 低溫試驗(yàn)方法Test method of low tempemture test

·GB/T2423.2-2008  高溫試驗(yàn)方法Test method of high temperature test

·GB/T2423.22-2012 溫度變化試驗(yàn)Test of temperature chantge

·GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock

·GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock

·GJB367.2-87溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock

·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等

7.3.測試室溫度范圍-40℃～+150 ℃ (風(fēng)冷式)

7.3.1.低溫沖擊范圍-10℃～-40 ℃  

7.3.2.高溫沖擊范圍60℃～150 ℃  

7.4.高溫室

7.4.1.預(yù)熱溫度范圍RT～+165℃

7.4.2.升溫時(shí)間

+50℃→+165 ≤30min

注：升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能

7.5.低溫室

7.5.1.預(yù)冷溫度范圍RT～-55℃

7.5.2.降溫時(shí)間+20℃ → -55℃≤約60min

注：降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能

7.6.試驗(yàn)室（試樣區(qū)）

7.6.1.試驗(yàn)方式采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測試區(qū)，沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進(jìn)行沖擊,冷熱溫度沖擊測試。

7.6.2.溫度波動(dòng)度±0.5℃

7.6.3.溫度偏差±2.0℃

7.6.5.溫度恢復(fù)時(shí)間3~5min；轉(zhuǎn)換溫度只需要≤10s（風(fēng)門開啟時(shí)間：5秒以內(nèi)）

7.7.沖擊暴露時(shí)間≥30min。